
| 中文名称 | XPS测试 |
| 型号及规格 | |
| 所在城市 | 微谱 |
| 预约申请 | |
表面元素:对表面纳米级别元素定性半定量测试,检出限0.1~1%
价态分析:对单个元素窄谱进行分峰拟合,从而定性半定量,例如铁
有机官能团分析:利用窄谱信息对给定官能团进行分析
深度剖析/膜厚测试:氩离子团簇深度刻蚀,可以测试元素随深度变化
UPS-XPS:可以得到价带、导带、能带间隙
面扫测试:利用结合能不同进行面扫测试
深圳市光明区公明街道产创融合促进中心 邮箱:szmma0755@126.com 地址:深圳市光明区公明街道光学路258号美信达科学里2栋1楼
电话:0755-21671401 粤ICP备17056946号-1 |
友情链接: |