利用X射线衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，进行定性和定量的物相分析，配有平行光路系统，可以进行表面相分析，对薄膜的结构进行表征。还配有高温样品台（室温~1200℃），可以对样品在不同温度下的相变进行表征。

测试范围与服务项目

粉末样品、固体样品的物相分析、微量相分析、薄膜分析、高温衍射、应力测量、结晶度、晶胞参数等的测定。