当前位置:首页 >大型仪器设备 > 冷场发射透射电子显微镜
仪器编号
中文名称 冷场发射透射电子显微镜
英文名称
型号及规格 JEM-F200
所在城市 中山大学分析测试中心深圳校区分中心
主要技术指标

简介

JEOL公司生产的F200型透射电子显微镜(JEM-F200)是一款高性能场发射透射电镜,分辨率达0.19nm(TEM)和0.14nm(STEM),支持80kV和200kV加速电压。配备四级聚光镜系统、双能谱仪(EDS)和电子能量损失谱仪(EELS),适用于材料科学、半导体和生命科学等领域的高分辨率成像和成分分析。



深圳市光明区公明街道产创融合促进中心 邮箱:1193324905@qq.com 地址:深圳市龙华区观湖街道松元厦社区向西新围112号B栋3楼

电话:0755-23103380     粤ICP备17056946号-1

友情链接: