
| 仪器编号 | |
| 中文名称 | 扫描探针显微镜(原子力显微镜) |
| 英文名称 | |
| 型号及规格 | ICON XR |
| 所在城市 | 中山大学分析测试中心深圳校区分中心 |
简介
扫描探针显微镜(原子力显微镜)可以在大气和液体环境中对样品的表面形貌和力学、电学、磁学特性进行测量,给出样品表面的粗糙度、弹性系数、粘滞力、表面静电力、表面电容等物理量,广泛应用于能源材料、半导体材料、生物材料、高分子材料等领域。
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